▲光纤电缆的光学性能和几何学性能测试方法
| 测试特性 | 测试参数以及测试方法的描述 | EIA/TIA- 455号 | IEC- 60793- 1测试方法 | ITU-T测试方法 |
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| 光纤几何形状 | 光纤几何是很重要的两个光纤为核心。光纤几何测量，以确定光纤错配的发生时，制造商不能维持的光学和结构公差期间，光纤错配将导致光纤衰减和内在耦合损耗。环境影响评估/短暂性发生，455-176介绍的方法来衡量所有的关键参数光纤的横截面几何除核心直径。60793 - 1 - 20描述了4测量方法光纤几何（即屈光纤ELD情况，横向干扰，接近光纤ELD对光照分布及机械直径）。以下参数是衡量：包层直径，包层不圆，直径为核心的，核心的非圆和核心包层同心度误差和理论数值孔径。同时IEC 60793-1-21介绍了四种方法，为涂层的几何形状的纤维。以下参数是衡量：涂层的直径，涂层非圆和涂层包覆同心错误 | 176 | 20,21 | 单模: G.650方法5.2.1 多模:G.651,Sec.1 ,方法B.3 |
| 光谱损耗 | 减少在信号强度过程中的衡量衰减，和衰减功能的波长。455-78描述的测量方法为光谱衰减的单模光纤。455-46描述的测量方法为光谱衰减，只要长度级指数多模光纤按照IEC 60793-1-40介绍了四种方法测量衰减：（一）截回，（二）插入损耗，（三）散射，（四）在模拟的光谱衰减。 | 单模光纤:78多模光纤:46 | 40 | 单模: G.650 方法 5.4.1 多模 :G.651,Sec.2,1,方法 B.2 |
| 特定波长的衰减均匀性（间断） | 采用的方法为，在IEC 60793-1-40涵盖的地点，损失及表征间断。这项测试是为了监测变化，光学透过率的光纤变化和电缆所产生的光间断。 | 78 | 40 | SM: G.650方法5.4.2 MM:G . 651 , Sec.2 ,方法B.4 |
| 数值孔径( 多模) | 该数值孔径（钠）是一种测量的方法，光学光纤，455-177是要确定一些方法，梯度折射率，玻璃的核心和玻璃包层光纤。无论是从纤维的远场辐射方向图（ A法）或光纤折射率分布的（ B法）。IEC 60793-1-43确立的要求，测量格A1梯度折射率为多模光纤 | 177 | 43 | G.651,Sec.1 ,方法 B.4 |
| 截止波长 | 波长的模式，停止所谓的截止波长为模式，但是，光纤总是能够至少有一个模式为最根本的模式。基本模式是不能切断。波长的单模光纤是波长以上，其中光纤传播的唯一的模式，测量长度的截止涉及比较。发射功率从测试光纤与一个参考光纤在不同的波长。455-80 ＆IEC 60793-1-44规定，测量方法截止波长的单模光纤，测试方法适用于样本光纤电缆或在一个有线或作为一个跳线的电缆 | 80 | 44 | G.650,方法5.3.1, 5.3.3 |
| 模场直径(单模) | 透过双方的核心和包层。"光纤模式在ELD"是分布通过核心和包层的某一纤维。模式场直径未做特殊定义的大小的权力分配。环境影响评估455–191建立在要求测量光纤。四种方法所描述的在IEC 60793-1-45 ：一）直接对光纤的扫 描 二）可变孔径在远光纤 三）光纤的ELD扫描 四）双向散射使用，直径是一个关键的参数，因为径向程度的模式，可用于预测的损失，此外，如果其光谱的变化是众所周知的，它可以用来衡量切断波长。其他参数，可以预见，包括波导色散和折射率。 |
191 | 45 | G.650,方法5.1.2 |
| 带宽 | 带宽是一般的数据量，在一个特定的时间内，可以进行从一个点到另一点的测试，衡量发射光进入光纤为主导。环境影响评估455-204介绍了两种方法确定的输电能力，为多模光纤。即60793-1-41介绍了两种测量方法的模态带宽多模光纤。 1）光时域测量（脉冲失真）2）在频域测量。每种方法可以用其中的2轮： 光纤的启动（ofl）条件或限制模式启动（rml）的条件。 | 204 | 41 | G.651,Sec.3方法B2G650方法5.5.1 |
| 色散分布 | 色散的发生是因为不同颜色的光通过光纤，在不同的速度下，一些颜色到达光纤低端，这个过程而导致脉冲展宽。色散，得到了测量，455-175使用差相移的方法，以确定分散数据，在某一特定波长从微分群时延之间的紧密合作，间隔2 波长60793-1描述了4测量方法的色散：（一）相移，（二）的光谱群时延在时域上，（三）差相移，及（四）干涉。 | 175 | 42 | G.650,方法5.5.1 |
| 偏振模式 | 偏振模色散，这是时间延迟之间的两个原则，偏振模的传输链路在接收机。PMD的发生时，轻内光纤有不同的速度，使不可能的数据传输可靠，高速。PMD的是面临的最大挑战，是一个高速光学系统，IEC 60793-1描述了三种方法测量PMD的单一模式光纤。455-124介绍了测量方法的平均PMD的方法及电缆组件超过测量波长范围内所选择的来源，从1210nm和/或1550nm的区域。 | 124 | 48 | G.650方法5.7.3 |